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X-RAY透视检测设备   通用型离线式X射线检测设备X6600

X-RAY透视检测设备 通用型离线式X射线检测设备X6600

产品简介:

ZM-X6600是一款高性价比的微焦点X射线检测设备,特别适用于电子制造和半导体bga芯片检测,快速检测桥接、空洞、开路、多锡少锡、断线、通孔对齐度等品质缺陷。产品标签:ZM-X6600,X-RAY检测设备,封闭式X光管

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技术参数

X-RAY透视检测设备设备 离线式X射线检测设备X6600特点:

可编辑的检测程序
探测器更大倾斜65°

软件设置电压与电流

X光管和探测器可以沿Z轴方向移动

可以控制载物台X-Y方向运动的速度

超大导航窗口,鼠标点击即可将载物台移动到所指位置

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